技術文章
Technical articles原位電化學質譜儀檢測系統及檢測方法分析一、檢測系統核心組成與功能原位電化學質譜儀（DEMS）通過整合電化學反應池與質譜儀，實現對電化學反應過程中氣體或揮發性產物的實時監測。其檢測系統主要由以下模塊構成：電化學池模塊結構：采用三電極體系（工作電極、參比電極、輔助電極），并設計專用進出氣口以確保氣密性。例如，鋰離子電池測試中，電化學池需兼容紐扣電池或軟包電池結構，同時通過疏水透氣膜（如Teflon膜）實現氣體產物與電解液的分離。功能：作為電化學反應的核心場所，支持電位動態掃描或恒...
3D超景深顯微鏡能夠清晰地觀察到傳統光學顯微鏡因景深限制而無法看清的樣品細節，一次性獲取更大范圍內的樣品信息，無需頻繁調整焦距，提高了觀察和分析的效率。不僅可以獲得樣品表面的二維圖像，還能呈現出樣品的三維結構信息，讓用戶能夠從不同角度觀察和分析樣品的立體形態、高度分布、體積等特征，對于研究樣品的微觀結構和空間關系具有重要意義。可結合斜照明、透射光和偏振光等多種照明方式，根據不同的樣品特性和觀察需求選擇合適的照明模式，以獲得更清晰、對比度更高的圖像，更好地展現樣品的細節和特征。...
3D超景深顯微鏡基于光的干涉、衍射等原理，通過特殊的光學系統設計，如使用高數值孔徑的物鏡來收集更多的光線，以增加成像的分辨率和景深。利用多光束照明或結構光照明等方式，使樣品不同深度的信息能夠同時被捕捉并形成干涉圖案，從而為三維重建提供數據基礎。采集到的原始圖像數據經過計算機軟件的處理和分析，運用復雜的算法進行圖像拼接、去噪、增強對比度等操作，以提取出樣品的三維信息，并將其轉化為清晰、準確的3D圖像。3D超景深顯微鏡的使用注意事項：1.環境要求：顯微鏡應放置在干燥、通風、無灰塵...
激光捕獲顯微切割顯微鏡（LaserCaptureMicrodissection,LCM）是一種用于從組織切片中精準地分離和收集特定細胞或組織區域的技術。它結合了激光技術和顯微鏡的優勢，廣泛應用于分子生物學、基因組學、轉錄組學等領域。其主要技術步驟如下：1.樣本準備組織切片制備：將待分析的組織或細胞樣本切成薄片（通常為5–10μm厚），并放置在適當的載玻片上。通常使用冷凍切片機或石蠟切片機進行切割。切片后，組織可以進行染色，以幫助區分不同的細胞類型或組織結構。固定與染色：樣本需...
三維超景深顯微系統支持多種觀測模式，包括透射光、反射光及偏振光模式，可適應不同類型的樣本(如透明切片、不透明固體或液體中的懸浮物)。其次，其大景深特性使得一次性拍攝即可涵蓋樣本的多層結構，避免了傳統顯微鏡因調焦反復掃描導致的效率損失。通過測量立體圖像中的幾何參數(如高度、體積、表面粗糙度)，用戶可準確評估樣本的物理特性。這種能力在微納加工、半導體檢測等場景中尤為重要，例如分析芯片表面劃痕的深度或納米結構的形態偏差。三維超景深顯微系統的檢定方法：1.外觀與機械結構檢查-整體外觀...
三維超景深顯微系統是一種融合光學成像、圖像處理與計算機技術的顯微觀測工具，其核心目標是突破傳統顯微鏡的景深限制，實現對微觀樣本的三維立體呈現。與傳統二維顯微技術相比，它不僅能夠清晰捕捉樣本的表面細節，還能通過深度信息還原物體的三維結構，為科研和工業檢測提供了新視角。三維超景深顯微系統的光學設計通常結合了立體顯微鏡或數字全息技術，通過特殊的照明方式(如環形光源、斜照明或偏振光)增強樣本的對比度與細節表現。例如，環形照明技術可均勻覆蓋樣本表面，減少陰影干擾；斜照明則能突出紋理特征...
形貌探測顯微鏡（如掃描電子顯微鏡SEM、原子力顯微鏡AFM）是一種用于觀察和測量材料表面形貌、結構及性能的高精度儀器。其測量與表征主要包括以下幾個方面：1.表面形貌測量形貌探測顯微鏡能夠提供高分辨率的表面形貌圖像，精確揭示材料的微觀結構。通過掃描樣品表面并收集反射信號或掃描探針，能夠獲取樣品的表面形貌特征，如粗糙度、顆粒分布、微小裂紋等。2.三維表面分析現代形貌探測顯微鏡（如AFM）可以生成樣品表面的三維形貌圖。通過垂直和水平掃描，結合計算機處理，可將樣品表面以三維方式呈現，...
激光捕獲顯微切割技術可用于從復雜組織中準確分離和純化特定類型的細胞或細胞群體，在生物醫學研究和臨床應用中發揮著重要作用。激光捕獲顯微切割技術的測定步驟：-選擇合適的組織樣本，通常為冰凍切片或石蠟包埋的組織切片。-將樣本切片固定在載玻片上，并進行必要的染色處理，以便于顯微鏡下觀察。-將載玻片安裝在顯微鏡的載物臺上，并調整焦距和放大倍數，使目標區域清晰可見。-通過顯微鏡觀察，確定需要切割的目標區域。-可以使用特定的標記或染色方法來突出顯示目標細胞或組織區域，以便更容易進行識別和切...
當前位置：
