原子力顯微鏡的主要結構包括帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統等。在系統檢測成像全過程中，探針和被測樣品間的距離始終保持在納米(10e-9米)量級。當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像。
原子力顯微鏡(AFM)的測定步驟：
-打開設備電源，檢查探針是否安裝正確，并校準掃描儀的各個參數。
-準備待測樣品，確保其表面平整、干燥，適合進行AFM觀察。
-將樣品安裝在AFM樣品臺上，確保樣品與AFM探針之間有足夠的空間。
-使用樣品臺的高度調節裝置，將樣品調整到適當的位置。
-根據實驗需求選擇適當的AFM探針，考慮其彈性常數、共振頻率等參數。
-將選擇好的探針安裝在AFM探針持有器上，并確保安裝過程在潔凈環境中完成。
-設置掃描模式，如接觸模式、非接觸模式。
-定義AFM掃描的區域大小以及掃描點數。
-根據需要調整掃描速度，平衡分辨率和掃描時間。
-啟動AFM系統，并等待其初始化。
-開始AFM掃描，觀察樣品表面的拓撲圖像。
-記錄AFM獲得的數據，包括高度、力曲線等。
-保存獲得的拓撲圖像和其他相關數據。
-使用AFM軟件對獲得的拓撲圖像進行分析，提取表面特征和高度信息。
-根據需要繪制樣品表面的剖面圖。
-在完成掃描后，停止AFM系統的運行。
-關閉AFM系統并斷開電源。
-嚴禁觸摸原子力顯微鏡的探針，因為探針很容易受到損壞。
-避免任何刮擦、撞擊或其它樣品的損壞行為。
-避免任何液體或高溫、高壓等有害物質被迅速添加到樣品中。
-使用時請注意觀察樣品是否有變化，及時檢查和維護儀器。
更新時間：2025-03-11
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